รายละเอียดเอกสาร

อื่น ๆ

เอกสารมาตรฐาน

ไม่ระบุ

JSA

JSA JIS C 2162

Test method of long-term reliability of gate insulator for SiC devices at high temperature

23/3/2010 (R 2014)

0

(23/3/2010 (R 2014))

• JISC2162